薄膜導(dǎo)熱測試儀是一款多功能的材料熱測試儀，主要是針對薄膜，固體，粉末等各種材料的導(dǎo)熱系數(shù)，熱擴(kuò)散系數(shù)，數(shù)、蓄熱系數(shù)和比熱容等種指標(biāo)，可適用不同尺寸及形式的樣品檢測，可以直觀的測量樣品參數(shù)，無須特別的樣品制備，對于材料的研究熱物理性能研究有著重要的作用。
 

　　薄膜材料廣泛應(yīng)用于光學(xué)和電氣保護(hù)膜，薄膜光伏電池和薄膜電池等各種領(lǐng)域中。盡管薄膜材料已經(jīng)存在了數(shù)十年，但熱導(dǎo)率測量方法傳統(tǒng)上一直專注于探索塊體材料樣品，而表征這些特殊材料的能力相對滯后。近年來，由于熱管理非常重要的納米和微米級制造技術(shù)的進(jìn)一步發(fā)展，知識鴻溝逐漸縮小，而薄膜導(dǎo)熱測試儀的瞬態(tài)平面源即是一種用于表征薄膜材料導(dǎo)熱率的新穎工具。
 

　　無論是散熱還是絕熱，薄膜的導(dǎo)熱系數(shù)測試都具有非常重要的意義。由于薄膜材料厚度很小,對聲子散射，這使得薄膜材料的表觀導(dǎo)熱率與塊體材料相比，會(huì)有很大的差異。傳統(tǒng)的實(shí)驗(yàn)室測試方法中包含3ω方法，此方法在1989年提出。該方法需先在被測樣品表面鍍一根薄的金屬膜，而此金屬膜即是加熱裝置，同時(shí)又是測溫裝置。對該金屬膜通交流電，從而對樣品進(jìn)行加熱。
 

　　因?yàn)榻饘俚碾娮杪蕰?huì)隨溫度的升高而增大，因此金屬膜的溫度變化會(huì)帶來金屬膜阻值的溫度變化，該阻值與電流的共同作用產(chǎn)生電壓。使用鎖相放大器提取電壓信號，從而建立傳熱模型。通過改變電流頻率，最終計(jì)算出被測樣品的導(dǎo)熱系數(shù)。但此測試方法操作繁瑣，限制條件較多，且無法商業(yè)化。