塞貝克系數(shù)測(cè)定儀可用于測(cè)量某些材料的塞貝克系數(shù)（熱電系數(shù)）；塞貝克系數(shù)測(cè)定儀是根據(jù)地質(zhì)、礦業(yè)、物探、半導(dǎo)體科研院所的需求而設(shè)計(jì)的新型自動(dòng)化數(shù)字化熱電系數(shù)測(cè)量?jī)x，用于測(cè)量具有類似半導(dǎo)體特性的各種礦物，如黃鐵礦等及一般半導(dǎo)體材料的熱電系數(shù)。在某些礦物和半導(dǎo)體材料的研究中測(cè)取熱電系數(shù)具有重要的用途和意義。
　　塞貝克系數(shù)測(cè)定儀適合于礦業(yè)、地質(zhì)、物探、半導(dǎo)體等有關(guān)科研院所和高等學(xué)校使用。適合于測(cè)量直徑在0.1~1.0mm之間的微小晶體的熱電系數(shù)和導(dǎo)型。
　　塞貝克系數(shù)測(cè)定儀主要由以下幾部分構(gòu)成：
　　1、控制箱體：箱體由兩部分組成，上箱左側(cè)設(shè)有手動(dòng)按鈕，箱內(nèi)安裝雙試件測(cè)定裝置，下箱安裝制冷系統(tǒng)，氣壓傳動(dòng)控制系統(tǒng)。
　　2、微機(jī)控制系統(tǒng)：由高配置工業(yè)控制計(jì)算機(jī)、打印機(jī)組成。完成檢測(cè)信號(hào)采集、處理、溫控、時(shí)控計(jì)算、報(bào)表打印等功能。
　　3、雙試件測(cè)定裝置：由加熱單元和兩個(gè)冷單元組成。其中冷單元可根據(jù)試件的不同厚度由傳動(dòng)系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)節(jié)空間位置。
　　4、制冷系統(tǒng)采用直冷式的制冷方式，冷卻側(cè)板。